当前状态:正常

实验日期:
实验时间: :   -   :
  • 生产厂家:日本电子
  • 型号:JSM-7800F
  • 主要附件:EDS、EBSD

主要技术指标:

分辨率:二次电子:0.8nm(15kV),1.2nm(1kV);背散射电子;15nm;加速电压:0.02-30KV连续可调;束流范围:热场发射电子枪2pA~200nA(15kV);放大倍率:30X-1,000,000X;放大倍数组、细模式连续可调,具有随着工作距离或加速电压的变化自动精确校正、补偿。预设等功能。

主要功能:

纳米材料、复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、电子材料导体与非导体地矿、考古等表面微观形貌观察,在观察样品形貌的同时,配合能谱仪可对试样直接进行微区(点、线、面)元素的定性、定量分析,还可以使用EBSD完成显微组织和晶体学分析的结合,研究如热机械处理过程、塑性变形过程、与取向关系有关的性能(成型性、磁性等)、界面性能(腐蚀、裂纹、热裂等)、相鉴定等。