当前状态:正常

实验日期:
实验时间: :   -   :
  • 生产厂家:日本电子
  • 型号:JEM-2100F
  • 主要附件:STEM、EDS、普通单倾台、普通双倾台、铍双倾样品台、干泵,离子清洗仪、底插式CCD相机

主要技术指标:

(1)极靴:高分辨型;点分辨型:≤0.19nm,线分辨率:≤0.10nm,信息分辨率:≤0.14nm;电子枪类型:肖特基发射电子枪;加速电压:最高200kV,最小步长:50V。
(2)STEM:BF像分辨率:0.2nm;HAADF像分辨率:0.2nm(原子序数衬度像);分析能力:可以配合能谱仪进行线扫描和面分布分析。
(3)EDS:探测器类型:(80mm²电制冷型);能量分辨率;127eV;元素分析范围:4Be至92U;具有点、线、面定量分析功能。
(4)底插式CCD相机(GATAN 832.20B):分辨率:≥4008×2672像素;CCD像素尺寸:≥9m×9m。

主要功能:

适用于各种金属与合金、矿物与土壤、腐蚀产物、陶瓷等薄膜、粉末、块体材料样品测定,应用于样品的物相的定性及定量分析、晶粒大小测量、晶胞参数测量、结晶化度测量及结构精修等,还可进行样品织构分析和残余应力测试。